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XAD全自动光谱分析仪

  • 所属分类 : 镀层测厚

  • 更新时间 : 2021-06-03
  • 产品编号: YX128346801
  • 更多 0
产品介绍

XAD系列荧光光谱仪是一款全元素上照式光谱仪,可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚,也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析,先进的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。    


性能优势:    

1、微小样品检测:最小测量面积0.0085mm2   

2、变焦装置算法:可改变测量距离


测量面积:最小0.008mm2 

镀层分析:23层镀层24种元素 

仪器特点:RoHS卤素有害元素检测 

仪器优势:全元素自动分析


仪器简介:

XAD是一款上照式全元素光谱分析仪,可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚,也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析,先进的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。


产品优势:


技术参数:

1. 成分分析范围:铝(Al)- 铀(U)

2. 成分最低检出限:1ppm

3. 涂镀层分析范围:锂(Li)- 铀(U)

4. 涂镀层最低检出限:0.005μm

5. 最小测量直径□0.1*0.3mm(最小测量面积0.03mm2)

标配:最小测量直径0.3mm(最小测量面积0.07mm2)

6. 对焦距离:0-30mm

7. 样品腔尺寸:530mm*570mm*150mm

8. 仪器尺寸:550mm*760mm*635mm

9. 仪器重量:100KG

10. XY轴工作台移动范围:100mm*150mm

11. XY轴工作台最大承重:15KG


应用领域:


多元迭代EFP核心算法

专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上,计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法,结合先进的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用:如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂镀层应用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金镀层应用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用:如NiP/Fe,通过EFP算法,在计算镍磷镀层厚度的同时,还可精准分析出镍磷含量比例。

重复镀层应用:不同层有相同元素,也可精准测量和分析。

如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,第一层Ni和第三层Ni的厚度均可测量。

有害元素检测:RoHS检测,可满足铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、六价铬(Cr VI)等有害元素的成分检测及含量分析


配置清单:

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